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陶瓷电容跟电解电容的失效原因分析

电容器电子电路的主要元件,在电路中有着许许多多的应用,比如在直流电源电路中做低频滤波,在抗干忧电路中做高次谐波滤波,在振荡电路中做谐振元件等等,但是电容器同时也是电路中发生故障最多的电器元器件之一。以下介绍陶瓷电容和铝电解电容的失效原因。

 

陶瓷电容器失效的原因分为外部因素和内在因素:

1.陶瓷介质内空洞:导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染,烧结过程控制不当等。      

2.要原因与烧结过程中的冷却速度有关,裂纹和危害与空洞相仿。    

3.分层:多层陶瓷电容器的烧结为多层材料堆叠共烧。烧结温度可以高达1000℃以上。层间结合力不强,烧结过程中内部污染物挥发,烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生。     

外部因素主要为:温度冲击裂纹,主要由于器件在焊接特别是波峰焊时承受温度冲击所致,不当返修也是导致温度冲击裂纹的重要原因。

     

电解电容器的失效原因:

1.电解液自然挥发:

电解液的挥发速度随温度的升高而变快; 电解液的挥发速度与电容器的密封质量有关,无论在高温还是在低温条件下都要有良好的密封性。

    2.电解液的消耗:

漏电流所引起的电化学效应消耗电解液,铝电解电容器的寿命随漏电流增加而减少。

    3.寿命:

高温缩短铝电解电容器寿命;  

高纹波电流缩短铝电解电容器寿命; 

工作电压过高缩短铝电解电容器寿命;


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